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        晶硅電池隱裂檢測

        主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測

        產品型號:LPsolar-SC100


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        技術參數
        產能 ≥3600片/小時
        最高檢測精度 150μm
        設備有效時間 99%
        破片率 <0.05%(傳輸剔除)
        重復性 99.85%
        電壓 220V AV
        功率 ≤1000W
        產品優勢
        • 一體化隱裂碎片檢測模塊
        • 全定制光學系統(售價更低,性能更好)
        • 高效AI算法(算法時間100ms以內)
        缺陷圖例
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